石墨的La和Lc计算
依次使用XRD进行2°/min慢速扫描标样与试样,用标样校正仪器展宽,对得到的试样衍射峰分析晶面,通过测定(002)和(110)晶面衍射峰的半高宽,利用谢乐公式D=Kλ/(βcosθ)D=Kλ/(βcosθ),其中D为晶粒尺寸,K为常数(通常取0.89),λ为X射线波长,β为衍射峰半高宽,θ衍射角。从而求出碳素材料的微晶厚度Lc(002)和宽度La(110)
X射线衍射仪(XRD)
锂电池(负极材料);钠电池(负极材料)
依次使用XRD进行2°/min慢速扫描标样与试样,用标样校正仪器展宽,对得到的试样衍射峰分析晶面,通过测定(002)和(110)晶面衍射峰的半高宽,利用谢乐公式D=Kλ/(βcosθ)D=Kλ/(βcosθ),其中D为晶粒尺寸,K为常数(通常取0.89),λ为X射线波长,β为衍射峰半高宽,θ衍射角。从而求出碳素材料的微晶厚度Lc(002)和宽度La(110)
送样要求
样品量:粉末100mg 样品状态:干燥无明显结块
交付标准
提供物相鉴定信息图、表
晶面对应的晶粒尺寸表
全谱拟合图