Si含量和价态分析

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形态分析（XPS）

将样品平铺在导电胶上，利用X射线光电子能谱对材料表面做成分分析，并对C、O、Si谱做精细谱扫描和分析，得到Si元素的化学价态和半定量结果

X射线光电子能谱仪（XPS）

锂电池（负极材料）

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　　将样品平铺在导电胶上，利用X射线光电子能谱对材料表面做成分分析，并对C、O、Si谱做精细谱扫描和分析，得到Si元素的化学价态和半定量结果

　　送样要求

　　样品状态：干燥，样品稳定，不易挥发，无毒，无放射性。 样品需求量：送样量大于50mg(样品管中)

　　风险提醒

　　1)如果元素含量较低，需要增大Pass energy进行测试，提高测试灵敏度，但是谱图分辨率会有所降低，影响化合态的识别。

　　交付标准

　　1)给出Si元素的化学价态;

　　2)Si元素半定量结果。

Si含量【ICP】

利用马弗炉在高温下制备样品至硅元素完全消解，使用电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES设备对处理后的样品进行硅元素含量的测试，准确测定样品中硅元素含量。方法的检出限：0.035%

ICP-OES/MS

锂电池（负极材料）

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　　利用马弗炉在高温下制备样品至硅元素完全消解，使用电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-OES设备对处理后的样品进行硅元素含量的测试，准确测定样品中硅元素含量。方法的检出限：0.035%

　　送样要求

　　样品量：最少提供样品0.5 g， 样品状态：脱水真空包装邮寄，样品稳定，不易挥发，无毒

　　风险提醒

　　试样吸水会带来误差，因此寄送时尽量脱水干燥。

　　交付标准

　　1)报告中给出硅元素含量以及是否检出;

　　2)提供原始表格数据。