层间距和石墨化度

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层间距和石墨化度

使用一定量硅标准样品与样品进行均匀混合处理后，再使用X射线衍射仪处理后的样品进行物相结构测试，通过对硅粉的（111）晶面的角度数据进行校正之后，得到样品石墨晶面（002）对应的层间距d002并计算出石墨化度值。

X射线衍射仪（XRD）

锂电池（负极材料）

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　　使用一定量硅标准样品与样品进行均匀混合处理后，再使用X射线衍射仪处理后的样品进行物相结构测试，通过对硅粉的(111)晶面的角度数据进行校正之后，得到样品石墨晶面(002)对应的层间距d002并计算出石墨化度值。

　　送样要求

　　1)样品量5g; 2)无毒、无挥发性干燥粉末

　　风险提醒

　　1)颗粒度要求高，会对样品进行研磨，有可能影响材料有序性。 2)原样品为无定型石墨，无法利用该方法得到石墨化度。 3)研磨过筛会带来样品损失，样品量过少会引起测试结果不准确。

　　交付标准

　　数据包含：层间距d002和石墨化度值+1 张XRD图谱数据

　　1)给出层间距d002和石墨化度值

　　2)提供一张经硅标校准后标明衍射峰位置的XRD图谱。