锂电负极材料(如石墨、硅基材料等)中的金属颗粒检测是质量控制的关键环节,直接影响电池的安全性和性能。下面是金属颗粒检测的常用方法、技术要点及标准:
1. 检测方法
(1) 电感耦合等离子体发射光谱/质谱(ICP-OES/MS)
原理:通过高温等离子体将金属颗粒离子化,检测特征光谱或质荷比。
适用性:
ICP-OES:定量分析Fe、Cu、Ni等常见金属杂质(检出限0.1-1 ppm)。
ICP-MS:超痕量检测(如Co、Cr,检出限0.01 ppb)。
前处理:需用王水或氢氟酸消解样品,破坏石墨结构释放金属颗粒。
(2) 扫描电子显微镜-能谱(SEM-EDS)
原理:电子束激发样品表面,通过X射线能谱分析元素分布。
优势:
直接观察金属颗粒形貌(如Fe颗粒呈不规则块状)。
定位微米级杂质(分辨率可达1 μm)。
局限性:轻元素(如Li、B)检测灵敏度较低。
(3) X射线荧光光谱(XRF)
适用场景:快速筛查表面金属(如Cu、Zn),无需复杂前处理。
缺点:对深层杂质检测能力有限,检出限约10 ppm。
(4) 激光粒度分析(LPA)
原理:通过激光散射检测颗粒尺寸分布,间接反映金属团聚体。
注意:需结合其他方法区分金属颗粒与碳基团聚体。
2. 关键检测指标
常见金属杂质:Fe、Cu、Ni、Zn、Cr(可能刺穿隔膜引发短路)。
行业限值(参考GB/T 24533-2019):
3. 样品前处理要点
消解方法:
石墨负极:HNO₃/H₂O₂(3:1)微波消解(180℃, 30 min)。
硅基材料:需添加HF以溶解硅氧化物。
空白对照:全程使用超纯水(电阻率≥18.2 MΩ·cm)避免污染。
4. 注意事项
污染控制:使用聚四氟乙烯(PTFE)容器,避免金属工具接触样品。
数据验证:每批次样品需平行测试3次,相对标准偏差(RSD)<5%。
如需检测特定金属(如磁性Fe颗粒),可补充磁选分离+ICP-MS的专项方案。
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