电芯面电阻测试主流测试方法：四探针法

　　电芯的面电阻测试是一个非常重要且专业的测试项目，它直接关系到电芯的功率性能、发热均匀性、循环寿命和安全性能。

　　面电阻测量的行业标准方法是 “四探针法”。

　　原理：使用四个并排的探针接触样品表面。外侧两个探针通入恒定的微小电流(I)，内侧两个探针测量由此产生的电压降(V)。根据公式计算电阻。

　　优势：完全消除了探针与样品之间的接触电阻，测量结果仅反映样品本身的面内电阻，精度极高。

　　在电芯行业，通常采用以下两种实现方式：

　　a) 固定间距多探针阵列

　　这是常用、快速的产线或实验室方法。

　　设备：一台面电阻测试仪，配备一个多探针测试头(如日置的 “四端子四探针” 头)。

　　测试对象：可以是极片(分切后)，也可以是完整的电芯。

　　对电芯的测试流程：

　　将电芯固定在平整的测试台上。

　　将多探针测试头(通常包含数十对探针)垂直、均匀地压在电芯的整个表面(大面)。

　　设备自动通过每一对探针(或采用扫描模式)在电芯表面注入微小电流并测量电压，快速计算出整个表面多个点位的面电阻值。

　　软件会生成一张面电阻分布图(Mapping)，直观显示电阻的高低分布区域。

　　对极片的测试：原理相同，在极片表面选取多个点进行测量。

　　b) 扫描式四探针系统

　　用于更高精度的科研分析。单个四探针头在样品表面进行高密度网格化扫描，生成极其精细的面电阻分布云图。

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